欢迎访问梅田研究室的主页.
本研究室正在着手研究半导体材料和半导体器件中的缺陷和杂质。它们对半导体材料的电子和光学特性(如超低功耗特性)有很大影响,是实现高性能半导体器件的关键。我们利用ESR (电子自旋共振检测方法)及其衍生相关技术去研究存在于半导体材料和器件中缺陷的性质。特别是, 我们研究室搭建的EDMR(电流型电子自旋检测方法)让我们能够研究微电子器件(如 0.1 微米以下的MOSFET器件等)中存在的缺陷,从而为超低功耗硅存储器的开发提供很大的帮助。相关研究成果及其论文发表请参考论文.
・JSPS postdoctoral fellowships:
http://www.jsps.go.jp/english/e-fellow/fellow.html (application in every May and September).